ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ РАБОТОСПОСОБНОСТИ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ

dc.contributor.author	Бржезинский, В.А., Севастопольский национальный технический университет
dc.date.accessioned	2010-04-06T07:28:41Z
dc.date.available	2010-04-06T07:28:41Z
dc.date.issued	2002
dc.identifier.citation	Вестник СевГТУ.- Вып.41.- С.65-71	en_US, ru, uk
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/772
dc.description	микроэлектронные устройства	en_US, ru, uk
dc.description.abstract	Экспериментально подтверждены выводы термодинамического анализа работоспособности микро- и оптоэлектронных приборов и устройств при воздействии дестабилизирующих факторов.	en_US, ru, uk
dc.publisher	Севастопольский национальный технический университет	en_US, ru, uk
dc.title	ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ РАБОТОСПОСОБНОСТИ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ	en_US, ru, uk
dc.type	Book chapter	en_US, ru, uk