НАНО И МИКРОТВЕРДОСТЬ. АНАЛИЗ ИСТОЧНИКОВ ПОГРЕШНОСТЕЙ ИЗМЕРЕНИЯ

Мурзин, Л.М., доцент, канд. техн. наук,Севастопольский национальный технический университет

Главная
→
Вестник СевГТУ. Машиноприборостроение и транспорт
→
2011 (Выпуск 111)
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Мурзин, Л.М., доцент, канд. техн. наук,Севастопольский национальный технический университет
dc.date.accessioned	2011-03-14T10:26:15Z
dc.date.available	2011-03-14T10:26:15Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	Вестник СевГТУ.- Севастополь: Изд-во СевНТУ,2010.- Вып. 111:Машиноприборостроение и транспорт.- С.110-112	en_US, ru, uk
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/2710
dc.description	Машиноприборостроение и транспорт	en_US, ru, uk
dc.description.abstract	В настоящей работе представлены результаты анализа источников погрешностей при измерении микро и нанотвердости. Проанализированы особенности формообразования углублений при индентировании и отпечатков, оставляемых индентором на поверхности испытуемых образцов. Особое внимание уделено проблеме точности измерения нанотвердости и роли упругих последействий в искажении формы отпечатков.	en_US, ru, uk
dc.publisher	Севастопольский национальный технический университет	en_US, ru, uk
dc.subject	нанотвердость	en_US, ru, uk
dc.subject	микротвердость	en_US, ru, uk
dc.subject	упругое последействие	en_US, ru, uk
dc.subject	пластическая деформация	en_US, ru, uk
dc.subject	погрешность измерения	en_US, ru, uk
dc.title	НАНО И МИКРОТВЕРДОСТЬ. АНАЛИЗ ИСТОЧНИКОВ ПОГРЕШНОСТЕЙ ИЗМЕРЕНИЯ	en_US, ru, uk