Аннотации:
Проведен анализ глубины залегания антиумножительного слоя в структуре
биполярного транзистора. Результаты анализа и экспериментальных исследова-
ний показали возможность повышения предельного напряжения транзистора в
схеме с общим эмиттером до напряжения пробоя изолированного коллекторного
перехода при сохранении малого напряжения открытого ключа.