Показать сокращенную информацию
| dc.contributor.author | Гусев, В.А., Севастопольский национальный технический университет | |
| dc.contributor.author | Темнов, С.А. | |
| dc.contributor.author | Мурзин, Д.Г., Севастопольский национальный технический университет | |
| dc.date.accessioned | 2010-04-08T07:55:46Z | |
| dc.date.available | 2010-04-08T07:55:46Z | |
| dc.date.issued | 2000 | |
| dc.identifier.citation | Вестник СевГТУ.- Вып. 31.- С.59-63 | en_US, ru, uk |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/876 | |
| dc.description | транзисторы | en_US, ru, uk |
| dc.description.abstract | Проведен анализ глубины залегания антиумножительного слоя в структуре биполярного транзистора. Результаты анализа и экспериментальных исследова- ний показали возможность повышения предельного напряжения транзистора в схеме с общим эмиттером до напряжения пробоя изолированного коллекторного перехода при сохранении малого напряжения открытого ключа. | en_US, ru, uk |
| dc.publisher | Севастопольский национальный технический университет | en_US, ru, uk |
| dc.title | ПОВЫШЕНИЕ ПРЕДЕЛЬНОГО НАПРЯЖЕНИЯ БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА С АНТИУМНОЖИТЕЛЬНЫМ СЛОЕМ | en_US, ru, uk |
| dc.type | Book chapter | en_US, ru, uk |